OmniScan X4 64:128PR相控陣在管道焊縫中的應用 提供全聚焦方式（TFM）的OmniScan X4相控陣探傷儀 探測和定義更小的高溫氫致（HTHA）裂紋 早期可靠地探測HTHA頗具挑戰性，因此通常需要同時使用多種檢測方法，以盡可能提高檢出率。衍射時差（TOFD）、聚焦相控陣（PA）和全聚焦方式（TFM），特別是在使用雙晶線陣（DLA）探頭的情況下，已被證明是適合這種應用的特別有效的檢測技術。 
OmniScan X4 64探傷儀全支持這些方法和創新型相位相干成像（PCI）技術，后者可增強探測微小缺陷和裂紋端的能力。OmniScan X4儀器還提供各種機載軟件工具，以簡化您的設置和分析工作流程。 集成了DLA探頭配置和掃查器配置 高分辨率全聚焦方式（TFM）圖像（高達1024 × 1024點） 軟件工具優化了從設置到分析的整個TFM檢測過程（帶AIM模型的掃查計劃、自動TCG、稀疏發射、軟增益和調色板滑塊、實時TFM包絡和圖像濾波器、閘門和報警） 64 陣元 TFM 孔徑和 128 陣元擴展 TFM 孔徑（OmniScan X4 64:128PR 和 128:128PR 型號） 相位相干成像可增強探測小缺陷和裂紋端的能力（所有OmniScan X4儀器） 同時采集多達8個TOFD和相控陣組，實現高效篩查 同時采集和顯示多達4個TFM和PCI組 可使用TFM和PCI進行平面波成像（PWI）（使用OmniScan X4儀器和線性陣列探頭） 超聲相控陣探傷儀一般應用在航空航天、管道施工維護、石油化工等等領域與應用當中，對一些形狀奇怪的部件進行更加準確的近表面探測，是超聲相控陣探傷儀的優勢所在。奧林巴斯的超聲相控陣探傷儀就擁有出色的探測能力，可以輕松協助檢測人員定位和定量材料的缺陷，尤其是類似于腐蝕、裂紋等等隱藏的缺陷與不連續性，幫助不同行業高效完成檢測。 啟航檢測科技（上海）有限公司-無損事業部提供OmniScan X4 64:128PR相控陣探傷儀培訓、OmniScan X4 64:128PR演示、OmniScan X4 64:128PR調試、OmniScan X4 64:128PR檢測應用等等
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